研发用户的测量场景复杂而多变,既有临时的检测任务,也有大量连续采样测试工作(如趋势分析、可靠性验证、破坏性测试等),且连续采样测试往往蕴藏更诱人的价值。这让研发用户选择热像仪时常常面临两难局面:选择手持热像仪,不能应对连续采样测试工作;选择在线热像仪,灵活性又不足。FOTRIC 220s 系列热像仪让您不再为难:不只是手持热像仪,也是在线热像仪,更能胜任长期数据采样工作。
手机可直接录制1000帧热像全辐射视频,温变过程实时捕捉。自定义采样速率(最快5帧/秒),没有PC也能自动采集数据。
手机扫一扫,自动为照片命名,告别人工录入的繁琐、低效和错误。
长期在线模式下采集的数据非常大。FOTRIC 220s系列热像仪配套软件支持最大1T的单个全辐射热像视频录制,帮助研发用户记录实验过程的完整数据。
未封装芯片内部温度分布测试
测试难点:大多电子方面的热分布分析不是一张热像图可以解决的,需要看到温度变化的过程,看到整个实验的温度变化情况。特别是如芯片一样小而精细的器件。
解决方案:对于芯片等小目标可以使用Fotric 226s搭配50微米微距镜,甚至Fotric 227s/228s搭配20微米微距镜进行检测。通过AnalyzIR的在线分析功能,可以连续检测温度变化过程,录制后可以任意分析。